東京工業大学工学院教授の間中孝彰氏は、これまでに725本もの文献3つの特許を取得されています。

このページでは、間中孝彰氏のプロフィールや特許の概要紹介、文献の固体デバイス、電気物性:電子伝染、薄膜、非線形光学の４つの分類コードから、スコア上位3つの文献をご紹介します。

固体デバイス

• EFISHGおよびLBIC測定による二層積層有機EL素子内のキャリア挙動解析
  

著者：貞方敦雄 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年02月26日

• 次世代太陽電池材料の光計測分析技術 電界誘起光第二次高調波法による有機半導体のキャリヤー挙動の解析技術
  

著者：田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年03月10日

• 電界誘起光第2次高調波測定を用いたバルクヘテロ型太陽電池のPEDOT:PSS層への2次ドーピングの評価
  

著者：三和健人 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年02月26日

電気物性:電子伝導

• 熱刺激電流(TSC)‐EFISHG同時測定によるIZO/polyimide/pentacene/Au素子のキャリアトラップ評価
  

著者：田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、細川英機 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年02月26日

• EFI‐SHG法による高配向高分子半導体薄膜の注入および輸送異方性評価
  

著者：安部健太郎 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、松原幸平 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年02月26日

• EFISHG顕微法による有機素子(IZO/polyimide/C60/Al)の絶縁破壊前駆現象の観察

著者：田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年02月26日

薄膜

• 高配向有機半導体薄膜におけるキャリア輸送の可視化と輸送機構の評価
  

著者：松原幸平 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、安部健太郎 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2014年11月14日

• 導電性高分子材料PEDOT:PSSを用いた二層積層有機ELのキャリア挙動解析
  

著者：大塚貴子 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、貞方敦雄 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年02月26日

• TIPSペンタセン薄膜の時間分解微視的光学第二高調波発生イメージングにより観測したバンド状輸送
  

著者：松原幸平 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年04月

非線形光学

• 新奇な顕微鏡的電界誘起光第二高調波発生測定システムによる二重層有機発光ダイオードにおける電界分布とキャリア挙動のプロービング

著者：貞方敦雄 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、矢野椋 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2014年12月

• 電界誘起光第二次高調波発生法による2層積層(IZO/PMMA/α‐NPD/Au)有機ダイオード素子の電界分布と電気伝導機構の解析
  

著者：西翔平 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2015年02月26日

• 電界誘起光第2次高調波発生法によるIZO/α‐NPD/Alq3/Al積層有機EL素子中のトラップ電荷の直接測定
  

著者：田口大 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、間中孝彰 (東京工業大学大学院・理工学研究科)、岩本光正 (東京工業大学大学院・理工学研究科)

発行年：2014年03月03日

• 電界分布又はキャリア分布を高次高調波の強度に基づいて検出する検出装置及びその検出方法
  

公開番号：特開2008-218957

公開日 (公表日)：2008年09月18日

• 有機半導体電界効果トランジスタの評価装置及び特性測定方法
  

公開番号：特開2007-073619

公開日 (公表日)：2007年03月22日

• ヘテロ接合電界効果トランジスタ現象を観察する方法及び装置
  

特許番号：特許第6307351号

公開番号：特開2015-008284

公開日 (公表日)：2015年01月15日